Pinna karedus on viis pinna ebatasasuste arvu kvantifitseerimiseks. Parameeter Ra tähistab kõigi antud alal mõõdetud pinnakõrguste aritmeetilist keskmist. Nagu eespool mainitud, jagunevad need kolmeks tunnuseks: karedus, lainetus ja lamedus. Need tegurid mõjutavad pinna omadusi.
Seetõttu on pinna kareduse mõõtmiseks mitu meetodit. Mõõtmistehnikate peamised tüübid on otsemõõtmine, võrdlev mõõtmine, kontaktivaba mõõtmine ja protsessimõõtmine.
1. Otsene mõõtmise meetod
Selle protsessi käigus hinnatakse pinnaviimistlust, joonistades pliiatsi otsa pinnaga risti ja piki pinda. Teine meetod magnetiliste materjalide pinnakareduse hindamiseks on induktiivne. Selle meetodi puhul kasutab induktiivne pikap katsepinna kauguse mõõtmiseks elektromagnetkiirgust. Otsese mõõtmise meetodit saab kasutada kareduse tasemete parameetrite väärtuste võrdlemiseks.
2. Võrdlev mõõtmismeetod
Võrdlustehnikas kasutatakse pinnakareduse proove, mis on valmistatud analüüsitava pinnaga samade seadmete, protseduuride ja materjalide abil. Proovi võrreldakse teadaoleva pinnakaredusega, kasutades optilist ja kombatavat meelt. Kuna protseduur on subjektiivne, sobib see tehnika kõige paremini mittekriitiliste rakenduste jaoks.
3. Kontaktivaba mõõtmise meetod
Kontaktilise lähenemise korral kasutatakse pliiatsi asemel heli või valgust. Optilised instrumendid liigitatakse mitut tüüpi, sealhulgas konfokaalsed ja valge valguse häired. Kasutatakse ka elektronmikroskoopia tehnikaid, kuigi kasutatavatel seadmetel on kitsas vaateväli.
4. Protsessi mõõtmise tehnikad
See lähenemisviis võimaldab pidevat pinnaseiret töötlemise või muude protsesside ajal, mis võib anda kasutajale kasulikku tagasisidet. Lisaks, kuna need mõõdavad pinda tegelikule rakendusele lähemal olevates tingimustes, võivad protsessi mõõtmismeetodid anda täpsemaid tulemusi kui muud lähenemisviisid.
Teiseks saab pinnaviimistluse hindamiseks kasutada akustilisi laineid. Ultraheliimpulss saadetakse pinnale ultrahelihajumise teel. Katseseadmetes ultrahelilained transformeeritakse ja peegelduvad. Selle tulemusena arvutatakse peegeldunud lainete abil pinna karedus.
Peale selle saab pinnale laserkiire kiirgamisel ja peegeldunud valguse intensiivsuse mõõtmisel kasutada valgust pinna kareduse hindamiseks. Mida karedam on pind, seda rohkem valgus hajub ja peegeldunud valguse intensiivsus väheneb.
